Strumenti modulari RF PXI Express a 6.6 GHz della National Instruments

National Instruments presenta due strumenti modulari RF PXI Express per il test automatizzato di dispositivi wireless. Il VSA (analizzatore di segnale vettoriale) 9 NI PXIe-5663E da 6.6 GHz e il VSG (generatore di segnale vettoriale) PXIe-5673E da 6.6 GHz ottimizzano molto i tempi di test per una vasta gamma di dispositivi che impiegano gli ultimi standard wireless inclusi WiMAX, WLAN e GSM/EDGE/WCDMA.

La nuova funzione RF list mode fornisce il sequenziamento deterministico delle potenza e della frequenza per permettere di modificare le configurazioni RF in maniera più rapida durante un test. L’ampliamento della frequenza di banda incrementa la velocità di misura riducendo il tempo di assestamento dell'oscillatore locale a 300 microsecondi o meno.

Eric Starkloff, vice presidente del test product marketing di National Instruments afferma: "Questi nuovi strumenti sono la dimostrazione del nostro continuo impegno nel favorire un risparmio di denaro ottimizzando i tempi di test".

La funzione RF list mode consente di configurare i nuovi NI VSG e VSA PXI Express a 6.6 GHz per passare velocemente attraverso una lista di impostazioni RF preprogrammate, inclusi i livelli di frequenza e potenza a intervalli di tempo deterministici. RF list mode facilita anche l’esecuzione di misure di potenza ancora più accurate, ottimizzando quindi il livello di riferimento di input del VSA PXIe-5663E.

Con la modalità ad ampiezza di banda estesa è possibile impostare il generatore e l’analizzatore a una frequenza centrale in maniera molto più rapida rispetto a molti altri strumenti tradizionali RF. I due dispositivi sono in grado di ottenere tempi di tuning dell’ordine di 3-400 microsecondi per frequenze comprese tra 800 MHz and 1,950 MHz. Grazie ai tempi di assestamento più rapidi è possibile ridurre il tempo di misura generale all’interno delle applicazioni di test RF automatizzato.

La suite di strumenti modulari RF PXI Express da 6.6 GHz è basata sulla piattaforma di test definito da software NI, che incorpora tecnologie PC standard industriali quali processori multicore e connettività tramite bus PCI Express. La natura orientata al software della strumentazione modulare RF PXI consente a tecnici e ingegneri di utilizzare l’ambiente di progettazione grafica NI LabVIEW per implementare algoritmi di misura per il test di una molteplicità di dispositivi wireless a una velocità 10 volte superiore rispetto agli strumenti tradizionali RF.

Scopri come gli strumenti modulari PXI Express sono in grado di effettuare misure RF fino a 10 volte più veloci.

National Instruments
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