Search Results for: VNA

Test di Signal Integrity su backplane multilayer: un approccio automatizzato mediante l’uso di VNA low-cost

Le tradizionali misure di Signal Integrity su backplane si basano sulla rilevazione della risposta TDT (time-domain transmission) o TDR (time-domain reflectometry) dal dispositivo sotto analisi, con l’obiettivo di estrarre informazioni utili da esso. Tuttavia, un backplane multilivello può arrivare a …

Sistemi di sviluppo per ARM

Esistono diversi ambienti di sviluppo basati sul microcontrollore ARM, ognuno con proprie caratteristiche e specifici strumenti di lavoro, ma tutti condividono, le stesse funzionalità, magari svolte in modo diverso. IAR Embedded Workbench per ARM o mVision della Keil sono degli ambienti di sviluppo di tipo IDE realizzati per permettere a un progettista software lo sviluppo e …

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